Specyfikacja
Konstrukcja optyczna obiektywu
Wykres MTF
Oś pionowa: kontrast
Oś pozioma: odległość od centrum kadru
S: Sagittal (linie ułożone prostopadle do krzywizny obiektywu)
M: Meridional (linie ułożone równolegle do krzywizny obiektywu)
Szeroki kąt
Gęstość linii – 15 linii/mm
Gęstość linii - 45 linii/mm
Teleobiektyw
Gęstość linii – 15 linii/mm
Gęstość linii - 45 linii/mm
Specyfikacja
| Typ | FUJINON XF55-200mmF3.5-4.8 R LM OIS | |
| Konstrukcja optyczna | 14 soczewek w 10 grupach (w tym 1 soczewka asferyczna i 2 soczewki ED) |
|
| Ogniskowa | f=55 - 200 mm (odpowiada zakresowi 84-305 mm w formacie pełnej klatki 35 mm) | |
| Kąt widzenia | 29,0° - 8,1° | |
| Maksymalny otwór przysłony | F3.5 - F4.8 | |
| Minimalny otwór przysłony | F22 | |
| Kontrola przysłony | ||
| Liczba listków przysłony | 7 (zaokrąglony otwór przysłony) | |
| Rozmiar kroku | 1/3EV (17 kroków) | |
| Zakres ostrości | ||
| Tryb standardowy | 1,1 m - ∞ (w całym zakresie ogniskowych) | |
| Tryb makro | 1,1 m - 3 m (w całym zakresie ogniskowych) | |
| Powiększenie maksymalne | 0,18x (teleobiektyw) | |
| Wymiary zewnętrzne: średnica x długość*1 (w przybliżeniu) | ø75,0 mm x 118 mm (szeroki kąt)/177 mm (teleobiektyw) | |
| Waga *2 (w przybliżeniu) | 580 g | |
| Rozmiar gwintu filtra | ø62 mm | |
UWAGI
*1 Odległość od kołnierza mocowania obiektywu
*2 Bez dekielków i osłon obiektywu
